GDT高溫電阻率測(cè)試儀
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詳情介紹:
GDT高溫電阻率測(cè)試儀
該高溫電阻率測(cè)試儀是測(cè)量碳素塊狀材料在高溫環(huán)境下導(dǎo)電性能的專(zhuān)用儀器。該儀器由控溫系統(tǒng)、高溫爐、和測(cè)量系統(tǒng)組成。
高精度穩(wěn)壓恒流源:
輸入:220V±10% 功耗:≦300VA
輸出:電壓0~24V 電流0~40A 精度0.01
測(cè)試容器:
試樣直徑: Φ20~Φ50mm
試樣長(zhǎng)度: 100mm
電壓端子間距離:可調(diào)
試樣尺寸測(cè)量:數(shù)字顯示卡尺,0~150mm,精度0.01mm.
電壓測(cè)量:數(shù)顯電壓表,量程0~199.99MV, 精度0.01MV
控溫系統(tǒng):
溫度范圍:室溫~900℃ 控溫儀表:原裝進(jìn)口微電腦智能程序控溫儀, SSR固態(tài)繼電器驅(qū)動(dòng),熱電偶自由輸入.